晶体管物理老化测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821282242.4
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2018-08-09
申请人：
济南半一电子有限公司

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著录项信息

专利名称	晶体管物理老化测试设备
申请号	CN201821282242.4	申请日期	2018-08-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	济南半一电子有限公司	申请人地址	山东省济南市高新区新宇路750号14号楼2-101室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	济南半一电子有限公司	当前权利人	济南半一电子有限公司
发明人	司徒向科;肖金矿;季永健
代理机构	青岛科通知桥知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	雷丽

摘要

本实用新型公开了晶体管物理老化测试设备，包括检测槽，所述检测槽的外壁上固定有电源机构，所述检测槽的上侧壁固定连接有L型杆，所述L型杆远离检测槽的一端下侧壁固定有伸缩杆，所述伸缩杆的驱动端竖直向下固定连接有隔热板，所述隔热板的下侧壁粘接有安装板，所述安装板的下侧壁开设有多个与晶体管过盈配合的插口，每个所述插口内均倒装有晶体管，每个所述晶体管的连接端均延伸至隔热板的上侧，所述检测槽的内部设有加热机构，所述检测槽的外壁上设有测试装置。本实用新型通过对晶体管在高温环境中的电流、电压和功率的变化进行检测分析，加温和检测同步进行，检测过程更加简便，结果更加准确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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