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在半导体存储器件中产生提升电压的电路和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610051303.1
  • IPC分类号:G11C11/401;G11C11/4074;G11C7/00;H02M3/04
  • 申请日期:
    2006-01-05
  • 申请人:
    三星电子株式会社
著录项信息
专利名称在半导体存储器件中产生提升电压的电路和方法
申请号CN200610051303.1申请日期2006-01-05
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2006-09-27公开/公告号CN1838314
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C11/401IPC分类号G;1;1;C;1;1;/;4;0;1;;;G;1;1;C;1;1;/;4;0;7;4;;;G;1;1;C;7;/;0;0;;;H;0;2;M;3;/;0;4查看分类表>
申请人三星电子株式会社申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人三星电子株式会社当前权利人三星电子株式会社
发明人张寿凤;金致旭
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人吕晓章;李晓舒
摘要
在半导体存储器件的提升电压产生电路中,有源突跳器驱动信号产生电路响应行激活命令产生具有第一脉冲持续时间的有源突跳器驱动信号并响应刷新命令产生具有第二脉冲持续时间的有源突跳器驱动信号。有源突跳器电路响应有源突跳器驱动信号来产生提升电压。第二脉冲持续时间可以大于第一脉冲持续时间,从而可以改善刷新操作中提升电压的泵激效率。

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