脑电接触阻抗检测方法及装置

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专利名称	脑电接触阻抗检测方法及装置
申请号	CN201310033909.2	申请日期	2013-01-24
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-06-12	公开/公告号	CN103149438A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00）	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;0;2查看分类表>
申请人	上海帝仪科技有限公司	申请人地址	上海市张江高科技园区郭守敬路351号2号楼657-11室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海帝仪科技有限公司	当前权利人	上海帝仪科技有限公司
发明人	董记平;张彦春;马清宝;夏鹏
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	王茂华

摘要

本发明的实施例公开了一种脑电接触阻抗检测方法及装置。该方法包括：控制交流电流信号由待测电极流向参考电极；检测所述待测电极与所述参考电极之间的交流电流信号；根据所检测的交流电流信号，计算所述脑电接触阻抗。本发明的实施例通过交流电流信号检测脑电接触阻抗，从而可以降低对脑电信号的检测精度的影响。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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