半导体致冷片老化测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201821454795.3
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2018-09-06
申请人：
泉州市依科达半导体致冷科技有限公司

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著录项信息

专利名称	半导体致冷片老化测试装置
申请号	CN201821454795.3	申请日期	2018-09-06
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司	申请人地址	福建省泉州市经济技术开发区孵化基地科技工业楼二楼A区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司	当前权利人	泉州市依科达半导体致冷科技有限公司
发明人	阮秀沧;黄锦局
代理机构	北京轻创知识产权代理有限公司	代理人	谈杰

摘要

本实用新型提供了一种半导体致冷片老化测试装置，涉及半导体致冷片技术领域。半导体致冷片老化测试装置包括测试台、限位组件、第一导热板和测试控制器，测试台的中部设有限位槽，限位组件包括第一限位板、第一限位组件和第二限位组件，第一限位组件包括驱动柱、驱动盘和限位座，限位座上设有承载槽，第二限位组件包括支撑柱、第二限位板和限位弹簧。本实用新型通过限位槽的设计，对待测致冷片起到了限位的效果，提高了对待测致冷片的限位固定效果，通过限位板、第一限位组件和第二限位组件的设计，以采用螺纹转动的方式和弹簧挤压的方式驱动限位板对第一导热板和待测致冷片进行挤压固定限位，提高了老化测试过程中对待测致冷片的限位固定效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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