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优化至少两个光学元件成像特性的方法以及照相平版制造法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN02825556.9
  • IPC分类号:G03F7/20;G02B5/30;G02B1/02;G02B1/08
  • 申请日期:
    2002-10-02
  • 申请人:
    卡尔蔡司SMT股份有限公司
著录项信息
专利名称优化至少两个光学元件成像特性的方法以及照相平版制造法
申请号CN02825556.9申请日期2002-10-02
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2005-04-13公开/公告号CN1606715
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G03F7/20IPC分类号G;0;3;F;7;/;2;0;;;G;0;2;B;5;/;3;0;;;G;0;2;B;1;/;0;2;;;G;0;2;B;1;/;0;8查看分类表>
申请人卡尔蔡司SMT股份有限公司申请人地址
德国上科亨 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人卡尔蔡司SMT股份有限公司当前权利人卡尔蔡司SMT股份有限公司
发明人B·梅金;T·格鲁纳;A·科尔
代理机构北京市中咨律师事务所代理人吴鹏;马江立
摘要
在用来优化至少两个光学元件(9、10)的成像特性的方法中,其中为了优化光学成像相互调整光学元件(9、10)的相对位置,执行以下步骤:首先确定对于至少一个光学元件(9、10)的与偏振有关的干扰量。接着由对于至少一个可运动的光学元件所确定的干扰量和其它光学元件的干扰量计算出所述至少一个可运动的光学元件(9)的目标位置。在这个目标位置,所有光学元件(6)的由与偏振有关的和与偏振无关的干扰量合成的总量最小。最后使可运动光学元件(9)运动到目标位置。对与偏振有关的干扰量的考虑保证了成像特性精确的模型化,这是精确优化的前提条件。

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