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集成电路的封装及制造

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200580002093.0
  • IPC分类号:H05K3/00;H05K3/20;H01L21/44;H01L21/48;H01L23/02;H01L23/48;H01L29/40
  • 申请日期:
    2005-09-28
  • 申请人:
    阿瓦戈科技通用IP(新加坡)股份有限公司
著录项信息
专利名称集成电路的封装及制造
申请号CN200580002093.0申请日期2005-09-28
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-02-07公开/公告号CN1910971
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H05K3/00IPC分类号H;0;5;K;3;/;0;0;;;H;0;5;K;3;/;2;0;;;H;0;1;L;2;1;/;4;4;;;H;0;1;L;2;1;/;4;8;;;H;0;1;L;2;3;/;0;2;;;H;0;1;L;2;3;/;4;8;;;H;0;1;L;2;9;/;4;0查看分类表>
申请人阿瓦戈科技通用IP(新加坡)股份有限公司申请人地址
新加坡新加坡市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人阿瓦戈科技通用IP(新加坡)股份有限公司,安华高科技通用IP(新加坡)公司当前权利人阿瓦戈科技通用IP(新加坡)股份有限公司,安华高科技通用IP(新加坡)公司
发明人K·尼施穆拉;Q·白;T·B·弗霍芬
代理机构北京东方亿思知识产权代理有限责任公司代理人李晓冬
摘要
提供了集成电路的装置、封装及制造方法。集成电路包括在含有第一材料的第一衬底上制造的第一类型部件,和在含有第二材料的第二衬底上制造的第二类型部件。第一材料比第二材料具有与第一类型部件的制造和/或性能更好的兼容性,而第二材料比第一材料具有与第二类型部件的制造和/性能更好的兼容性。还描述了一种制造上述集成电路的方法,该方法包括,在其它步骤当中,相互相对地设置第一和第二衬底的步骤,和在所述部件之间建立电连接的步骤。

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