在芯片设计的验证中建立无限测试矢量的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN03117235.0
IPC分类号：--
申请日期：
2003-01-27
申请人：
四川南山之桥微电子有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	在芯片设计的验证中建立无限测试矢量的方法
申请号	CN03117235.0	申请日期	2003-01-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-04-14	公开/公告号	CN1489198
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	四川南山之桥微电子有限公司	申请人地址	四川省成都市高新西区创业中心变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	四川南山之桥微电子有限公司	当前权利人	四川南山之桥微电子有限公司
发明人	李为民;林昕;孙杰;陈卓;张旭;赵承志;华海红
代理机构	成都天元专利事务所	代理人	张新

摘要

本发明公开了一种在超大规模片上系统芯片设计的验证中，为模拟出真实网络环境，而又避免完全随机测试带来的弊端，使超大规模片上系统芯片设计的验证结果能真实反映芯片的性能、功能，而提出的一种建立测试矢量的方法。该方法的步骤是建立随机代码的N维空间；建立N维测试矢量产生引擎。采用本发明，在芯片的验证过程中随机无穷而又有目的性和针对性且的向芯片发送数据包，逼真地模拟出真实网络环境，大大提高了验证效率，使验证结果能够真实反映该芯片的性能和功能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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