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半导体装置封装及其制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710531531.7
  • IPC分类号:H01L23/31;H01L23/495;H01L21/50
  • 申请日期:
    2017-07-03
  • 申请人:
    日月光半导体制造股份有限公司
著录项信息
专利名称半导体装置封装及其制造方法
申请号CN201710531531.7申请日期2017-07-03
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-06-05公开/公告号CN108122862A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/31IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;3;1;;;H;0;1;L;2;3;/;4;9;5;;;H;0;1;L;2;1;/;5;0查看分类表>
申请人日月光半导体制造股份有限公司申请人地址
中国台湾高雄市楠梓加工区经三路26号邮编81170 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日月光半导体制造股份有限公司当前权利人日月光半导体制造股份有限公司
发明人陈天赐;王圣民;王奕程;许文政
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人萧辅宽
摘要
一种半导体装置封装包括电子装置、传导框和第一模制层。所述传导框安置在所述电子装置上并且电连接到所述电子装置,并且所述传导框包括多个引线。所述第一模制层覆盖所述电子装置和所述传导框的一部分,并且安置在所述引线中的至少邻近的两者之间。

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