全谱精修测定β-磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910627367.9
IPC分类号：G01N23/207
申请日期：
2019-07-12
申请人：
上海交通大学

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专利名称	全谱精修测定β-磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法
申请号	CN201910627367.9	申请日期	2019-07-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-09-17	公开/公告号	CN110243850A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/207 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/207 衍射，例如，利用处于中心位置的一个探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器〔2，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;7查看分类表>
申请人	上海交通大学	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学	当前权利人	上海交通大学
发明人	饶群力
代理机构	上海交达专利事务所	代理人	王毓理;王锡麟

摘要

一种全谱精修测定β‑磷酸三钙中羟基磷灰石含量的方法，通过将混有HA的β‑TCP样品进行X射线衍射测量得到高分辨率衍射谱，以β‑TCP晶体和HA晶体的原子空间结构为模板构造晶胞参数和晶体结构模型，再以结构模型为约束条件对高分辨率衍射谱中的每一个衍射峰在全谱范围进行β‑TCP中的杂质定性检测和HA全谱拟合定量检测。本发明基于对样品物相组成的正确分析以及对物相组分构建合理的晶体结构，再以衍射谱图上的衍射峰作为考量对象，综合考察被测样品中每一个物相衍射花样的整体状况，通过Rietvelt方法进行数据处理的一种高精度定量方法。

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