一种基于平面样品转截面样品的特定微小区域标定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910505783.1
IPC分类号：G01N23/2202;G01N23/2005;G01N1/28
申请日期：
2019-06-12
申请人：
苏试宜特（上海）检测技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于平面样品转截面样品的特定微小区域标定方法
申请号	CN201910505783.1	申请日期	2019-06-12
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-15	公开/公告号	CN112083022A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/2202 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/207 衍射，例如，利用处于中心位置的一个探针以及安放在周围的一个或多个可移动的检测器〔2，2006.01，2018.01〕 G01N23/2202 样品制备〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;0;2;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;0;5;;;G;0;1;N;1;/;2;8查看分类表>
申请人	苏试宜特（上海）检测技术有限公司	申请人地址	上海市闵行区宜山路1618号8幢C101室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏试宜特（上海）检测技术有限公司	当前权利人	苏试宜特（上海）检测技术有限公司
发明人	蔡齐航;谢亚珍;郭语柔
代理机构	上海唯源专利代理有限公司	代理人	曾耀先

摘要

本发明的一种基于平面样品转截面样品的特定微小区域标定方法，包括步骤：将平面样品放入透射电子显微镜中观察，并记录平面样品上的特定微小区域的位置信息；根据记录的位置信息对对平面样品进行金属线性沉积，于平面样品上形成线性路径；将带有线性路径的平面样品放入透射电子显微镜中，观察线性路径是否落入特定微小区域内：若是，则以该线性路径作为将平面样品转截面样品时的执行位置；若不是，则再次对所述平面样品进行所述金属线性沉积，直至有所述线性路径落入所述特定微小区域内为止。本发明弥补了扫描式电子显微镜分辨率不高的缺点，可以对特定微小区域进行精准的定位，避免了误认盲切，能够得到符合要求的截面样品。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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