一种自动校验数据的SRAM安全存储系统及其方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110200852.5
IPC分类号：G11C16/34;G11C16/22;G11C29/00;G11C29/10
申请日期：
2021-02-23
申请人：
中国科学院微电子研究所

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著录项信息

专利名称	一种自动校验数据的SRAM安全存储系统及其方法
申请号	CN202110200852.5	申请日期	2021-02-23
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-04	公开/公告号	CN112908394A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C16/34 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C16/00 可擦除可编程序只读存储器（G11C 14/00优先）〔5〕 G11C16/02 电可编程序的〔5〕 G11C16/06 辅助电路，例如，用于写入存储器的（一般入G11C 7/00）〔5〕 G11C16/34 编程状态的确定，例如，阈值电压、过编程或欠编程、保留〔7〕	IPC分类号	G;1;1;C;1;6;/;3;4;;;G;1;1;C;1;6;/;2;2;;;G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;1;1;C;2;9;/;1;0查看分类表>
申请人	中国科学院微电子研究所	申请人地址	北京市朝阳区北土城西路3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院微电子研究所	当前权利人	中国科学院微电子研究所
发明人	李博;苏泽鑫;宿晓慧;王磊;卜建辉;赵发展;韩郑生
代理机构	北京天达知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	窦艳鹏

摘要

本发明涉及一种自动校验数据的SRAM安全存储系统，属于SRAM存储技术领域，解决了现有技术不能准确衡量SRAM芯片的老化程度、不能给出自动校验SRAM安全性的问题。该系统包括计时模块，用于监测各个SRAM芯片的待机时间是否超过预定值，在超过预定值后，向安全检测模块发送待测SRAM芯片的检测信号；安全检测模块，用于根据接收到的检测信号，对待测SRAM芯片进行老化压印力度分析，将获得的老化压印力度度量结果与预设阈值进行比较，判断待测SRAM芯片安全性能是否达标，不达标时将待测SRAM芯片的数据移动至备用存储模块，并启动校准模块；校准模块，用于对待测SRAM芯片进行复位和校准；多个SRAM芯片，用于存储主机发送的地址以及相应数据，互为备用存储模块。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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