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用于检测斑缺陷的设备和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610952450.X
IPC分类号：G01N21/88
申请日期：
2016-11-02
申请人：
AP系统股份有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于检测斑缺陷的设备和方法
申请号	CN201610952450.X	申请日期	2016-11-02
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-08-11	公开/公告号	CN107037053A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	AP系统股份有限公司	申请人地址	韩国京畿道华城市东滩面东滩产团8便道15-5 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	AP系统股份有限公司	当前权利人	AP系统股份有限公司
发明人	赵相熙;蒋盛旭;元祥运
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	马爽;臧建明

摘要

本发明提供一种用于检测斑缺陷的设备和方法，所述方法包含：获得显示面板的图像；检测来自图像的斑缺陷；当检测到斑缺陷时，产生表示图像的灰阶分布的曲线；以及分析曲线以确定斑缺陷的种类。根据所述方法，可检测显示面板上的斑缺陷且可确定斑缺陷的种类。

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