光的偏振状态评测方法、应用、装置、电子设备及介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202010495581.6
IPC分类号：G01J4/00
申请日期：
2020-06-03
申请人：
浙江大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光的偏振状态评测方法、应用、装置、电子设备及介质
申请号	CN202010495581.6	申请日期	2020-06-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-23	公开/公告号	CN111811655A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J4/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J4/00 测量光的偏振〔2〕	IPC分类号	G;0;1;J;4;/;0;0查看分类表>
申请人	浙江大学	申请人地址	浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江大学	当前权利人	浙江大学
发明人	周一览;邹康;毕然;缪立军;李楠;王磊;陈侃;舒晓武
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	应孔月

摘要

本发明公开了一种光的偏振状态评测方法、应用、装置、电子设备及介质，该方法包括：采集得到待评测光在邦加球上偏振态数据点；将所述偏振态数据点按照空间直角坐标系的八个卦限进行分离；对每个卦限内偏振态数据点进行Delaunay三角部分算法拟合；计算拟合得到的八个卦限内三角部分面积之和SDelaunay；将SDelaunay除以单位邦加球面总面积S0，得到偏振分离度。特别对于非偏振光而言，其偏振状态随着时间发生随机变化，因此要在时间序列上进行准确的描述。用该方法在时间上对信号光的偏振态进行定量分析，能够为去偏器的改进、提高光纤传感器的精度提供数值参考。除了光纤传感系统中，其它光学系统(例如，光学相干系统)中都可用该方法来定量分析和评测非偏振光以及偏振光。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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