全反射太赫兹波测定装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200980115688.5
IPC分类号：G01N21/35;G01N21/27
申请日期：
2009-04-27
申请人：
浜松光子学株式会社

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著录项信息

专利名称	全反射太赫兹波测定装置
申请号	CN200980115688.5	申请日期	2009-04-27
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-04-13	公开/公告号	CN102016548A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/35 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/35 利用红外光（G01N 21/39优先）〔3，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;5;;;G;0;1;N;2;1;/;2;7查看分类表>
申请人	浜松光子学株式会社	申请人地址	日本静冈县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浜松光子学株式会社	当前权利人	浜松光子学株式会社
发明人	中西笃司;河田阳一;安田敬史;高桥宏典;藤本正俊;青岛绅一郎
代理机构	北京尚诚知识产权代理有限公司	代理人	龙淳

摘要

本发明的全反射太赫兹波测定装置(1)具备光源(11)、分支部(12)、斩波器(13)、光程差调整部(14)、偏振片(15)、分束器(17)、太赫兹波产生元件(20)、滤波器(25)、内部全反射棱镜(31)、太赫兹波检测元件(40)、1/4波长板(51)、偏振光分离元件(52)、光检测器(53a)、光检测器(53b)、差动放大器(54)以及锁定放大器(55)。内部全反射棱镜(31)为所谓的无象差棱镜，具有入射面(31a)、出射面(31b)以及反射面(31c)。内部全反射棱镜(31)的入射面(31a)上一体地设置有太赫兹波产生元件(20)和滤波器(25)，内部全反射棱镜(31)的出射面(31b)上一体地设置有太赫兹波检测元件(40)。滤波器(25)使太赫兹波透过而使泵浦光遮断。由此，实现了可小型化的全反射太赫兹波测定装置。

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