结构变形测量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN02281752.2
IPC分类号：--
申请日期：
2002-10-25
申请人：
任心志

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	结构变形测量仪
申请号	CN02281752.2	申请日期	2002-10-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	任心志	申请人地址	天津市和平区成都道151号大家乐食廊变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	任心志	当前权利人	任心志
发明人	任心志
代理机构	天津德赛律师事务所	代理人	王里歌

摘要

一种结构变形测量仪，其特征在于：由激光准直发射器、激光接收靶和显示控制器组成；激光准直发射器输出的激光入射到激光接收靶上，激光接收靶的输出端与显示控制器的输入端连接。本实用新型的优点是：1.测量距离长、位移范围广。测量距离可达到数百米。位移范围由几十毫米到几米。2.可直接测量结构的位移，精度可达到0.01毫米。3.适用范围广。本设计既可在建筑结构及铁路施工中使用，又适合在桥梁、楼宇和大型结构安全检测及大型设备的制造、安装中使用。4.使用方便。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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