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一种被动毫米波辐射特征量的测量方法及系统、分类方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110239656.9
  • IPC分类号:G01N25/20;G01J5/00
  • 申请日期:
    2021-03-04
  • 申请人:
    华中科技大学
著录项信息
专利名称一种被动毫米波辐射特征量的测量方法及系统、分类方法
申请号CN202110239656.9申请日期2021-03-04
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-07-06公开/公告号CN113075252A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N25/20IPC分类号G;0;1;N;2;5;/;2;0;;;G;0;1;J;5;/;0;0查看分类表>
申请人华中科技大学申请人地址
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华中科技大学当前权利人华中科技大学
发明人胡飞;胡演
代理机构华中科技大学专利中心代理人徐美琳
摘要
本发明公开了一种被动毫米波辐射特征量的测量方法及系统、分类方法,属于无源微波遥感与探测技术领域。方法包括:利用测量得到的目标的水平极化亮温和垂直极化亮温,通过数据分析得到毫米波辐射特征量RDoP,同时给出了通过RDoP计算其它辐射特征量的公式,利用这些特征量可以实现目标的分类。本发明不需要测量目标的物理温度即可得到目标的毫米波辐射特征量;辐射计测量噪声、定标误差、大气辐射和衰减等不理想因素不会造成本方法的测量失真。本发明所构思的以上技术方案,可用于遥感中地物目标的识别与分类、人体安检中各类隐匿物的识别与分类、液体检测等。

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