校准方法和设备

发明专利有效专利

申请号：
CN200880005998.7
IPC分类号：G01B21/04
申请日期：
2008-02-18
申请人：
瑞尼斯豪公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	校准方法和设备
申请号	CN200880005998.7	申请日期	2008-02-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-01-06	公开/公告号	CN101622513
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/04 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;4查看分类表>
申请人	瑞尼斯豪公司	申请人地址	英国格洛斯特郡变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	瑞尼斯豪公司	当前权利人	瑞尼斯豪公司
发明人	约翰·查尔斯·乌尔德;亚历山大·坦南特·萨瑟兰
代理机构	广州三环专利代理有限公司	代理人	温旭;郝传鑫

摘要

描述了一种用于对设备进行校准的方法，所述设备包括安装在机器上的测量探头(4)。所述机器能够捕获表示所述测量探头的位置的机器位置数据(x，y，z；70；80)，所述测量探头能够捕获表示一表面相对于所述测量探头(4)的位置的探头数据(a，b，c；72；82)。测量探头(4)可以是具有可偏转的触针(14)模拟探头或者扫描探头。该方法的第一步骤包括以已知的速度相对于制品(30；40；42)移动所述测量探头(4)，同时捕获探头数据(a，b，c；72；82)和机器位置数据(x，y，z；70；80)。特别的是，所述测量探头(4)沿着一路径移动，所述路径使得能够捕获表示所述制品的表面上的两个或者多个点相对于所述测量探头(4)的位置的探头数据(a，b，c；72；82)。该方法的第二步骤包括分析机器位置数据(x，y，z；70；80)和探头数据(a，b，c；72；82)，并且从这些数据确定捕获探头数据和机器位置数据的相对延迟(即所谓的系统延迟)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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