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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

有沟槽隔离的半导体装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200410042296.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2004-04-29
  • 申请人:
    株式会社瑞萨科技
著录项信息
专利名称有沟槽隔离的半导体装置
申请号CN200410042296.X申请日期2004-04-29
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2005-02-02公开/公告号CN1574276
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人株式会社瑞萨科技申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社瑞萨科技当前权利人株式会社瑞萨科技
发明人杉原刚
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人杨凯;叶恺东
摘要
本发明的有沟槽隔离的半导体装置中设有:在半导体衬底(1)的表面上形成的沟(2),以及填埋于该沟(2)内且整个上面位于半导体衬底(1)的表面上方的埋入绝缘层(3)。埋入绝缘层(3)的从半导体衬底(1)的表面突出的部分有在半导体衬底(1)的主表面上从沟(2)的正上方区域向外侧凸出的外伸部,该外伸部具有至少层叠两层绝缘层(3b2、3c)的结构。从而实现能够抑制逆向窄沟道效应,且能得到高可靠性的栅绝缘层的有沟槽隔离的半导体装置。

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