用于CT成像系统精确定位的测量器具

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201120147446.9
IPC分类号：G01N23/04
申请日期：
2011-05-11
申请人：
上海生物医学工程研究中心

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著录项信息

专利名称	用于CT成像系统精确定位的测量器具
申请号	CN201120147446.9	申请日期	2011-05-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	上海生物医学工程研究中心	申请人地址	上海市浦东新区张江高科技园区瑞庆路528号14幢甲变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海生物医学工程研究中心	当前权利人	上海生物医学工程研究中心
发明人	金慧君;张蔚;李弋可;丁春荣;谢舒平
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	许亦琳;余明伟

摘要

本实用新型涉及一种用于CT成像系统精确定位的测量器具,包括平直板、底座和定位圆珠，所述定位圆珠的个数≥2；其中：平直板垂直嵌于底座上，定位圆珠垂直排布于平直板上。该测量器具结构简单，用于CT系统定位时的操作过程便捷，可获得CT成像系统的精确定位参数。可同时测出CT系统的定位参数DSD、DSO、x0、y0、β和γ。测量精度长度参数可达到0.1mm，坐标参数误差不大于0.1个像素。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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