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电荷耦合元件图像检测装置以及加速检测图像的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN00106442.8
IPC分类号：--
申请日期：
2000-04-10
申请人：
虹光精密工业股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电荷耦合元件图像检测装置以及加速检测图像的方法
申请号	CN00106442.8	申请日期	2000-04-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2001-10-17	公开/公告号	CN1317762
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	虹光精密工业股份有限公司	申请人地址	台湾省新竹科学园区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	虹光精密工业股份有限公司	当前权利人	虹光精密工业股份有限公司
发明人	陈琰成;吴永川
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	黄敏

摘要

一种加速检测图像的方法，以及应用上述方法的CCD图像检测装置，使CCD图像检测装置无须将残留的电荷包予以移出，即可以再次检测图像进而加速处理速度。

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