电路板测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721425063.7
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2017-10-31
申请人：
北京聚利科技股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	电路板测试装置
申请号	CN201721425063.7	申请日期	2017-10-31
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	北京聚利科技股份有限公司	申请人地址	北京市顺义区中关村科技园区顺义园临空二路1号8幢015室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京聚利科技有限公司	当前权利人	北京聚利科技有限公司
发明人	桂杰;姬生伟;王宏雨;李凤利;邱新豪;秦建良
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	杨泽;刘芳

摘要

本实用新型提供一种电路板测试装置，包括：主控板、底托、推压装置和支架；所述主控板设置有接触区域和指示区域，所述接触区域与所述指示区域电性连接，所述指示区域用于根据所述接触区域的电信号显示结果；所述底托设置于所述接触区域的上方，所述底托通过弹性部件与所述接触区域连接，所述底托上设置有至少两个卡槽，所述卡槽用于放置待测试电路板；所述每个卡槽内设置有探针，所述探针在所述弹性部件压缩状态时与所述接触区域电性连接；所述推压装置用于在竖直方向推压所述底托，以使得所述探针与所述接触区域电性连接。本实用新型提供的电路板测试装置，可用于测试电路板的电性指标，提高测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供