故障分析装置

发明专利无效专利

申请号：
CN01822273.0
IPC分类号：G11C29/00;G01R31/28
申请日期：
2001-11-16
申请人：
株式会社艾德温特斯特

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	故障分析装置
申请号	CN01822273.0	申请日期	2001-11-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2004-04-07	公开/公告号	CN1488149
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	株式会社艾德温特斯特	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社艾德温特斯特	当前权利人	株式会社艾德温特斯特
发明人	福田浩章
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	杨凯;王忠忠

摘要

本发明提供可简化操作并缩短操作时间的故障分析装置。缩小数据取得部(40)从半导体试验装置(100)内的CFM(120)读出将详细逻辑数据缩小后的缩小逻辑数据，作为试验结果。主浏览作成部(80)根据该缩小逻辑数据，作成包含每个DUT的试验结果的一览显示的主浏览窗口，在显示装置(94)进行显示。该一览显示中，包含表示各DUT是合格还是故障的结果图象和故障位映像的缩小图象。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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