一种利用自适应编码孔径进行压缩高光谱成像的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910104509.3
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/02
申请日期：
2019-02-01
申请人：
北京理工大学

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著录项信息

专利名称	一种利用自适应编码孔径进行压缩高光谱成像的方法
申请号	CN201910104509.3	申请日期	2019-02-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-04-26	公开/公告号	CN109682476A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	许廷发;徐畅;闫歌;张宇寒;王茜
代理机构	北京理工大学专利中心	代理人	李微微;仇蕾安

摘要

本发明公开了一种利用自适应编码孔径进行压缩高光谱成像的方法，利用高光谱图像具有高的谱间相关性的特点，预先得到几个波段的恢复图像，将其作为先验信息通过阈值操作构造自适应编码孔径，可以提取出目标场景的结构特征；相对传统的随机编码孔径，能够提高压缩效率，仿真和实验结果验证了本发明能够切实改善高光谱仪的成像质量；通过本发明所述的方法设计出的自适应编码孔径取值为0、1，很容易通过掩膜或者数字微镜阵列编码实现；在压缩高光谱仪中具有很强的普适性，有着广泛的应用前景。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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