一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110025102.9
IPC分类号：G01M3/20
申请日期：
2021-01-08
申请人：
胜达克半导体科技（上海）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法
申请号	CN202110025102.9	申请日期	2021-01-08
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-06-01	公开/公告号	CN112880940A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M3/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M3/00 结构部件的流体密封性的测试 G01M3/02 应用流体或真空 G01M3/04 通过在漏泄点检测流体的出现 G01M3/20 应用特殊示踪物质，例如染料、荧光材料、放射性材料	IPC分类号	G;0;1;M;3;/;2;0查看分类表>
申请人	胜达克半导体科技（上海）有限公司	申请人地址	上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	胜达克半导体科技（上海）有限公司	当前权利人	胜达克半导体科技（上海）有限公司
发明人	魏津;张经祥;吴艳平
代理机构	上海专益专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	方燕娜;王雯婷

摘要

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法。一种针对自动测试机的异步频谱泄漏的抑制方法，具体解决方法如下：S1：启动被测芯片的测试工作；S2：启动自动测试机的采样模块进行数据采样，采样数据长度为16384点；S3：根据采样数据长度为16384点，记录计算长度为16384，并添加汉宁窗函数计算得出采样点加权系数；S4：将计算得出的采样点加权系数应用在时域采样数据的公式中；S5：得出各项数据后，进行傅里叶变换，得出SNR及THD的数据。同现有技术相比，在自动测试机采样模块进行采样时增加汉宁窗函数，并进行傅里叶转换，能够针对非周期性信号的频谱泄漏有抑制作用，有利于分析信号的频率特性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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