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用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201880079995.1
IPC分类号：G01N23/041;H04N5/232
申请日期：
2018-07-31
申请人：
KA影像公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于相衬X射线成像的高分辨率X射线探测的方法和系统
申请号	CN201880079995.1	申请日期	2018-07-31
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-07-28	公开/公告号	CN111465840A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/041 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N23/041 相位差图像，例如使用光栅干涉仪〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;1;;;H;0;4;N;5;/;2;3;2查看分类表>
申请人	KA影像公司	申请人地址	加拿大安大略省变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	KA影像公司	当前权利人	KA影像公司
发明人	卡里姆·S·卡里姆;克里斯托弗·C·斯科特
代理机构	北京泛华伟业知识产权代理有限公司	代理人	徐舒

摘要

一种相衬X射线成像系统，用于对象成像，包括：X射线源；和X射线探测器，其具有25微米或更小的像素间距；其中，在X射线源与对象之间的距离小于或等于10cm。

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