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一种组合式绝缘子均压结构优化设计方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011635230.7
  • IPC分类号:G06F30/23;G06F30/17;G06N3/00;G06F111/06;G06F111/08;G06F113/16
  • 申请日期:
    2020-12-31
  • 申请人:
    西安理工大学
著录项信息
专利名称一种组合式绝缘子均压结构优化设计方法
申请号CN202011635230.7申请日期2020-12-31
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-05-07公开/公告号CN112765842A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F30/23IPC分类号G;0;6;F;3;0;/;2;3;;;G;0;6;F;3;0;/;1;7;;;G;0;6;N;3;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;1;/;0;6;;;G;0;6;F;1;1;1;/;0;8;;;G;0;6;F;1;1;3;/;1;6查看分类表>
申请人西安理工大学申请人地址
陕西省西安市碑林区金花南路5号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人西安理工大学当前权利人西安理工大学
发明人王闯;雷康;贾静;孙青
代理机构西安弘理专利事务所代理人戴媛
摘要
本发明公开的一种组合式绝缘子均压结构优化设计方法,具体的步骤是:通过ANSYS软件对组合式绝缘子进行仿真并计算其电场分布;确定决策变量的取值范围,并建立目标函数;采用基于模拟退火操作的混合差分进化算法对目标函数进行寻优。本发明一种组合式绝缘子均压结构优化设计方法,通过调控瓷绝缘子内部介电特性的分布,有效调控绝缘子表面的电场分布,应用混合差分进化算法,既保留了差分进化算法较强的搜索能力,又克服了在复杂优化问题的求解上过早收敛而陷入局部解、进化后期收敛慢及求解精度不高的缺点。

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