一种超快激光时空耦合特性的单次测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110934858.5
IPC分类号：G01J1/00
申请日期：
2021-08-13
申请人：
中国工程物理研究院激光聚变研究中心

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著录项信息

专利名称	一种超快激光时空耦合特性的单次测量方法
申请号	CN202110934858.5	申请日期	2021-08-13
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-16	公开/公告号	CN113654653A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G01J1/00查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	申请人地址	四川省绵阳市绵山路*** 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	当前权利人	中国工程物理研究院激光聚变研究中心
发明人	李伟;王逍;曾小明;母杰;胡必龙;左言磊;吴朝辉;王晓东;李钊历;粟敬钦
代理机构	中国工程物理研究院专利中心	代理人	仲万珍

摘要

本发明公开了超快激光时空耦合特性的单次测量方法，该方法首先将参考光和待测光束入射到采样光路中，经过采样光路的缩束系统进行缩束后，用狭缝阵列采样并通过成像光谱仪获取参考光与待测光形成的空谱干涉图像，然后通过“频域分割傅里叶变换”方法恢复狭缝阵列采样区待测光的谱强度和谱相位，最后通过一维傅里叶逆变换得到狭缝阵列采样区各点的时域特征，即可得到待测光束的时空耦合特性。本发明提供的超快激光时空耦合特性的单次测量方法，不需要对激光光束进行多次扫描，可用于单发输出的大型超高峰值功率激光装置的时空耦合特性测量，同时该方法简单易操作，通过简单的光路就能够实现超快激光时空耦合特性的单次测量，通用性强。

一种IOT接口方法、IOT设备接口和用户设备接口

发明授权

一种超快激光时空耦合特性的单次测量方法

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