一种激光测厚方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201310094889.X
IPC分类号：G01B11/06
申请日期：
2013-03-22
申请人：
浙江理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种激光测厚方法及装置
申请号	CN201310094889.X	申请日期	2013-03-22
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2013-07-24	公开/公告号	CN103217120A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先） G01B11/06 用于计量厚度	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人	浙江理工大学	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江理工大学	当前权利人	浙江理工大学
发明人	黄静;章涵博
代理机构	杭州天勤知识产权代理有限公司	代理人	胡红娟

摘要

本发明公开了一种激光测厚方法及装置，方法包括如下步骤：（1）采集基准面所返回的激光光斑的图像数据；（2）对所述激光光斑的图像数据进行预处理后，再进行粗定位，得到粗定位后的光斑中心像素点xi；（3）以xi为中心确定一单峰区域，对单峰区域内的若干个数据点进行细定位，得到细定位后的光斑中心，记为x1；（4）再次采集待测物体所返回的激光光斑的图像数据，重复步骤（2）和（3）得到待测物体的细定位后的光斑中心，记为x2，待测物体和基准面的光斑中心的位移z=|x1-x2|；（5）根据位移z计算出待测物体的厚度y。本发明基于CCD及嵌入式ARM算法处理，速度快、精度高，能够实现在线测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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