电子芯片的测试系统、方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201510532993.1
IPC分类号：G01R31/28;G06T7/00
申请日期：
2015-08-26
申请人：
硅谷数模半导体（北京）有限公司;硅谷数模国际有限公司

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著录项信息

专利名称	电子芯片的测试系统、方法及装置
申请号	CN201510532993.1	申请日期	2015-08-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-12-16	公开/公告号	CN105161139A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;6;T;7;/;0;0查看分类表>
申请人	硅谷数模半导体（北京）有限公司;硅谷数模国际有限公司	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街2号数码大厦A座28层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	硅谷数模半导体（北京）有限公司,硅谷数模国际有限公司	当前权利人	硅谷数模半导体（北京）有限公司,硅谷数模国际有限公司
发明人	彭俊良
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	韩建伟;张永明

摘要

本发明公开了一种电子芯片的测试系统、方法及装置。其中，该系统包括：可编程处理器，用于对测试图像进行预处理，得到测试图像的子图像或者像素点的灰度值，并将测试图像的子图像或者像素点的灰度值发送至待测芯片，其中，测试图像为用于测试待测芯片的图像；待测芯片，用于按照可编程处理器输出的测试图像的子图像或者像素点的灰度值还原测试图像，并利用测试图像进行测试；以及控制器，用于对待测芯片的测试过程进行控制。本发明解决了相关技术中电子芯片的自动测试系统因其内部带有flash、DDR存储模块，导致自动测试系统的硬件成本较高、软件开发周期较长的技术问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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