检测设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201310225000.7
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2013-06-07
申请人：
富士施乐株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	检测设备
申请号	CN201310225000.7	申请日期	2013-06-07
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-09	公开/公告号	CN103712570A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	富士施乐株式会社	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	富士施乐株式会社	当前权利人	富士施乐株式会社
发明人	堀田宏之;中山秀生
代理机构	北京天昊联合知识产权代理有限公司	代理人	陈源;李铭

摘要

本发明公开了一种检测设备，其包括：多个发光部分，它们布置成一行并以分时段方式将平行光发射到物体在其上经过的通道区域；一个或多个光接收部分，接收通过物体反射或透射穿过物体的平行光，所述光接收部分的数量小于所述发光部分的数量；以及检测部分，根据通过光接收部分接收的平行光的强度分布来检测物体的边缘和物体的具有不同反射率或透射率的部分的边缘中的至少一个。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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