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一种ZnS基底长波红外增透保护膜及其制备方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011460832.3
  • IPC分类号:G02B1/115;G02B1/14
  • 申请日期:
    2020-12-11
  • 申请人:
    中材人工晶体研究院有限公司;北京中材人工晶体研究院有限公司
著录项信息
专利名称一种ZnS基底长波红外增透保护膜及其制备方法
申请号CN202011460832.3申请日期2020-12-11
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-04-23公开/公告号CN112698430A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B1/115IPC分类号G;0;2;B;1;/;1;1;5;;;G;0;2;B;1;/;1;4查看分类表>
申请人中材人工晶体研究院有限公司;北京中材人工晶体研究院有限公司申请人地址
北京市朝阳区红松园1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中材人工晶体研究院有限公司,北京中材人工晶体研究院有限公司当前权利人中材人工晶体研究院有限公司,北京中材人工晶体研究院有限公司
发明人张旭;钱纁;肖红涛;党参;滕祥红;张克宏;石岩
代理机构北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙)代理人刘继富;王春伟
摘要
本申请提供了一种ZnS基底长波红外增透保护膜及其制备方法,其中ZnS基底长波红外增透保护膜包括依次设置在所述ZnS基底上的ZnS膜层和Y2O3膜层;ZnS基底厚度:2‑15mm,各膜层的厚度为:ZnS膜层:80‑120nm,Y2O3膜层:1000‑1300nm,Y2O3膜层从内部到表面膜层结构逐渐变化。制备ZnS基底长波红外增透保护膜的方法,包括以下步骤:1)对ZnS基底进行抛光处理和表面处理;2)在所述ZnS基底上沉积ZnS膜层;3)在所述ZnS膜层上沉积Y2O3膜层,沉积开始时初始氧氩比为(2.8‑3.4):35,在沉积过程中逐渐减小氧氩比,沉积结束时氧氩比为(0.6‑1.0):35。通过所述方法制备而成的ZnS基底长波红外增透保护膜结构稳定性好,且在波长7.0‑9.5μm的波段内平均透过率高。

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