自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011488969.X
IPC分类号：G01N21/95;G02F1/13
申请日期：
2020-12-16
申请人：
上海辛玮智能科技有限公司

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著录项信息

专利名称	自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法
申请号	CN202011488969.X	申请日期	2020-12-16
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-04-30	公开/公告号	CN112730449A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/95 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5;;;G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	上海辛玮智能科技有限公司	申请人地址	上海市杨浦区铁岭路38号1层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海辛玮智能科技有限公司	当前权利人	上海辛玮智能科技有限公司
发明人	李腾腾;苗伟
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种自动对焦液晶模组围观三维立体检测光学方法，包括以下步骤：根据成像模块采集图像信息；根据采集到的图像信息进行三维成像，并形成三维图像信息；对三维图像信息进行图像的明暗度匹配；对匹配后的三维图像信息与预存信息进行对比，并获得对比结果；根据对比结果判断三维图像信息的缺陷位置，并将缺陷位置记录并反馈至终端。通过利用成像模块自动对焦实现了多层次拍照一部分清晰一部分模糊不清技术难题，保证采集到的整幅图像各部分均是清晰的；实现了采集到的平面图像中的图像内容是立体呈现的，还原了图像内容的真实形态。实现了从多角度，多场景对图像内容进行分析。从而解决特定缺陷不可检测和误检率高的问题。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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