横波TOFD缺陷定位方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110076730.6
IPC分类号：G01N29/04
申请日期：
2011-03-29
申请人：
北京理工大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	横波TOFD缺陷定位方法
申请号	CN201110076730.6	申请日期	2011-03-29
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-10-05	公开/公告号	CN102207488A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;4查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	赵新玉;徐春广;肖定国;孙向辉;周世圆;郝娟;孟凡武;潘勤学
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

在超声无损检测领域中，目前的超声波衍射时差法(TOFD)仅利用纵波散射信号来发现焊缝中缺陷，由于所用信号单一，无法通过单次线性扫描实现焊缝内部缺陷的三维定位。针对这样的问题，我们提出一种横波TOFD检测方法，使用一对横波探头沿着焊缝进行单次线性扫描，同时利用焊缝内部缺陷的纵波和横波散射信号，经分析指出缺陷即位于散射横波信号所确定的椭圆轨迹上，又位于散射纵波信号所确定的圆形轨迹上，这样通过求得两曲线交点即可实现材料内部缺陷的三维定位。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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