一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110138342.6
IPC分类号：G11C29/00
申请日期：
2011-05-26
申请人：
上海复旦微电子集团股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法
申请号	CN201110138342.6	申请日期	2011-05-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-11-28	公开/公告号	CN102798816A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0查看分类表>
申请人	上海复旦微电子集团股份有限公司	申请人地址	上海市杨浦区国泰路127号复旦科技园4号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海复旦微电子集团股份有限公司	当前权利人	上海复旦微电子集团股份有限公司
发明人	董艺;周军;刘剑海
代理机构	上海信好专利代理事务所（普通合伙）	代理人	张妍

摘要

一种用于检测存储器译码电路的测试图形的生成方法，先清空阵列，然后初始化X方向地址，在给定的约束条件下，由X方向地址计算出Y方向地址，并计算出所要写入的数据，最后在X方向地址和步骤103得到的Y方向地址所决定的地址中，写入得到的数据，遍历X方向地址并重复以上操作。本发明用于检测存储器内的译码电路是否正常，具有普遍性，不同的存储器都可以用该方法来生成用于检测译码电路的测试图形，还可使译码电路测试图形和其他的测试图形相互兼容，省去写入2种测试图形之间的阵列清空操作，节省测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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