一种准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法

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专利名称	一种准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法
申请号	CN201911226767.5	申请日期	2019-12-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-03-24	公开/公告号	CN110907733A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	上海航天测控通信研究所	申请人地址	上海市闵行区中春路1777号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海航天测控通信研究所	当前权利人	上海航天测控通信研究所
发明人	李贝贝;李尊良;李向芹;谢振超;瞿浩;李雪
代理机构	上海汉声知识产权代理有限公司	代理人	胡晶

摘要

本发明公开了一种准光学馈电网络系统能量漏射的测试方法，通过系统损耗测试、系统外部能量漏射测试及系统内部多径传输测试，从工程应用方面实际测量准光学馈电网络是否存在能量漏射问题，从而可以准确的对准光部件进行位置精度调节，提高系统星载测试精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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