一种半导体激光吸收光谱气体分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200710067513.4
IPC分类号：G01N21/39
申请日期：
2007-03-02
申请人：
王健

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种半导体激光吸收光谱气体分析方法
申请号	CN200710067513.4	申请日期	2007-03-02
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2007-08-15	公开/公告号	CN101017135
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/39 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/39 利用可调谐的激光器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;9查看分类表>
申请人	王健	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司	当前权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司
发明人	王健;顾海涛;刘立鹏
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种半导体激光吸收光谱气体分析方法，所述方法包括以下步骤：a.确定半导体激光器的工作温度范围和工作电流范围；b.在所述半导体激光器的工作温度范围内划分出至少二个工作温度区间和至少一个无吸收谱线温度区间，使任一工作温度区间对应被测气体的至少一条吸收谱线；c.测得所述半导体激光器的工作环境温度T，根据所述工作环境温度T确定拟使用的被测气体的吸收谱线；d.根据半导体激光器的工作温度Twork和步骤c确定的吸收谱线的中心频率，确定并调整半导体激光器的工作电流；e.半导体激光器发出的光穿过被测气体并被接收；对接收到的光信号进行吸收光谱分析，得到被测气体的被测参数并显示。

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