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一种面向压电型力敏芯片阻抗特性测试装置

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202020740142.2
  • IPC分类号:G01R27/02;G01R31/28;G01R1/04
  • 申请日期:
    2020-04-30
  • 申请人:
    上海肇擎传感技术有限公司
著录项信息
专利名称一种面向压电型力敏芯片阻抗特性测试装置
申请号CN202020740142.2申请日期2020-04-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R27/02IPC分类号G;0;1;R;2;7;/;0;2;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人上海肇擎传感技术有限公司申请人地址
上海市青浦区华浦路480号1幢2层D区208室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海肇擎传感技术有限公司当前权利人上海肇擎传感技术有限公司
发明人张汪根;刘大俊;吕文硕
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本实用新型涉及一种面向压电型力敏芯片阻抗特性测试装置,包括视觉观察组件及与视觉观察组件连接的微动对准平台,所述微动对准平台上设置有压电型力敏芯片晶元,所述微动对准平台连接有阻抗测试仪,所述阻抗测试仪电连接有计算机,通过设置有视觉观察组件及微动对准平台,视觉观察装置和微动对准平台的芯片夹盘适用于该类型芯片的测试,探针夹具能够设定特殊的标定参数,从而可抑制白噪2个数量级,进一步提高了测试的准确性,阻抗测试仪器,匹配有压电型力敏芯片的等效电路模型,可直接对该芯片进行测试,提高测试频率分辨率6个数量级,阻抗精度达5个数量级,计算机可输入VBA程序,可快速实现测量数据的统计和计算,有利于芯片的批量化测试。

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