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一种硫掺杂石墨烯量子点及其制备方法和检测铅离子的应用

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201610104464.6
  • IPC分类号:C09K11/65;C01B31/04;B82Y30/00;G01N21/64
  • 申请日期:
    2016-02-25
  • 申请人:
    浙江理工大学
著录项信息
专利名称一种硫掺杂石墨烯量子点及其制备方法和检测铅离子的应用
申请号CN201610104464.6申请日期2016-02-25
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2016-06-15公开/公告号CN105670619A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C09K11/65IPC分类号C;0;9;K;1;1;/;6;5;;;C;0;1;B;3;1;/;0;4;;;B;8;2;Y;3;0;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人浙江理工大学申请人地址
陕西省西安市经济技术开发区凤城四路明光路东南角海璟新天地商业楼1808室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人陕西专壹知识产权运营有限公司当前权利人陕西专壹知识产权运营有限公司
发明人奚凤娜;沈超;袁昆;刘吉洋
代理机构杭州天勤知识产权代理有限公司代理人沈自军
摘要
本发明公开了一种硫掺杂石墨烯量子点及其制备方法和检测铅离子的应用,所述制备方法包括:将碳源化合物和硫源化合物溶于水,在碱性条件下进行水热反应,制得硫掺杂石墨烯量子点,所述碳源化合物为1,3,6‑三硝基芘,硫源化合物为可溶性硫化盐。制得的硫掺杂石墨烯量子点具有激发波长不依赖性,当用410‑490nm激发波长进行激发时,荧光发射峰位置不发生变化,高分辨透射电镜中可明显看到晶格线,证明本发明方法合成的硫掺杂石墨烯量子点具有单晶性;该物质的荧光被铅离子淬灭,表明对铅离子具有明显的选择性识别能力,有望用于痕量铅离子的选择性检测。

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