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画素阵列检测基板及制作方法、检测画素阵列基板的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201910400565.1
  • IPC分类号:G09G3/00
  • 申请日期:
    2019-05-15
  • 申请人:
    深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
著录项信息
专利名称画素阵列检测基板及制作方法、检测画素阵列基板的方法
申请号CN201910400565.1申请日期2019-05-15
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2019-08-30公开/公告号CN110189664A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G09G3/00IPC分类号G;0;9;G;3;/;0;0查看分类表>
申请人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司申请人地址
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司当前权利人深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
发明人陆炜
代理机构深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)代理人暂无
摘要
一种画素阵列检测基板及其制作方法以及检测画素阵列基板的方法。所述种画素阵列检测基板,包括基板、画素阵列电路设置于所述基板上、绝缘保护层设置于所述画素阵列电路上、栅极驱动芯片及电压检测芯片电连接于所述画素阵列电路、以及微处理芯片电连接于所述电压检测芯片。所述画素阵列电路是以待测的画素阵列基板的掩模来制作。

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