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接合的三维存储器器件及其通过用源极层替换承载衬底的制造方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201980078807.8
  • IPC分类号:H01L27/1157;H01L27/11575;H01L27/11573;H01L27/11565;H01L27/11582;H01L29/792;H01L29/66
  • 申请日期:
    2019-11-22
  • 申请人:
    桑迪士克科技有限责任公司
著录项信息
专利名称接合的三维存储器器件及其通过用源极层替换承载衬底的制造方法
申请号CN201980078807.8申请日期2019-11-22
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-07-23公开/公告号CN113169182A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/1157
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;7;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;7;5;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;7;3;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;6;5;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;5;8;2;;;H;0;1;L;2;9;/;7;9;2;;;H;0;1;L;2;9;/;6;6查看分类表>
申请人桑迪士克科技有限责任公司申请人地址
美国德克萨斯州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人桑迪士克科技有限责任公司当前权利人桑迪士克科技有限责任公司
发明人J·凯;卢庆煌;M·乔杜里;J·阿尔斯迈耶
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人邱军
摘要
本公开提供了一种三维存储器器件,该三维存储器器件可包括形成在承载衬底上方的绝缘层和间隔物材料层的交替堆叠。间隔物材料层形成为导电层,或者随后被该导电层替换。存储器堆叠结构穿过交替堆叠形成。每个存储器堆叠结构包括相应的竖直半导体沟道和相应的存储器膜。漏极区和位线可形成在存储器堆叠结构上方以提供存储器管芯。存储器管芯可接合到逻辑管芯,该逻辑管芯包含用于支持存储器管芯内的存储器单元的操作的外围电路。通过移除承载衬底来物理地暴露竖直半导体沟道中的每个竖直半导体沟道的远侧端部。源极层直接形成在竖直半导体沟道中的每个竖直半导体沟道的远侧端部上。可在源极层上形成接合焊盘。

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