投射多频光栅的物体表面三维轮廓的视觉测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200610010284.8
IPC分类号：G01B11/24;G01B11/25;G01B21/20;G06T15/00
申请日期：
2006-07-13
申请人：
周波

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	投射多频光栅的物体表面三维轮廓的视觉测量方法
申请号	CN200610010284.8	申请日期	2006-07-13
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-01-16	公开/公告号	CN101105393
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;2;5;;;G;0;1;B;2;1;/;2;0;;;G;0;6;T;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	周波	申请人地址	北京市石景山区金顶北路69号金隅科技大厦2层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京智启维恩科技开发有限公司	当前权利人	北京智启维恩科技开发有限公司
发明人	周波
代理机构	深圳市智科友专利商标事务所	代理人	曲家彬

摘要

本发明属于物体表面三维轮廓测量领域。其主要技术特征包括：1)通过向物体表面投射不同频率的光栅，获得多个相位图；2)采用频率合成方法，展开相位图，从而获得高精度的展开相位；3)利用展开的相位与外极线匹配对应点，计算物体表面的三维轮廓；4)为使计算结果更可靠，采用调制度作为展开相位的可靠性依据，对调制度小于设定阈值的相位进行掩模处理。本发明具有结构简单、非接触、高精度、高速度、易于实现的特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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