硅钢叠片涂层定压变形量高精度测量试验机

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320132890.2
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2013-03-22
申请人：
武汉理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	硅钢叠片涂层定压变形量高精度测量试验机
申请号	CN201320132890.2	申请日期	2013-03-22
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	武汉理工大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞狮路122号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	武汉理工大学	当前权利人	武汉理工大学
发明人	余先涛;詹煜;李义;张晶
代理机构	湖北武汉永嘉专利代理有限公司	代理人	钟锋

摘要

本实用新型提供一种硅钢叠片涂层定压变形量高精度测量试验机，包括主控系统及温控系统、压力发生装置、压力检测装置和位移测量装置，温控系统包括加热炉、热电偶、加热元件、触发控制单元及温控仪表；压力发生装置包括PLC、步进电机及其驱动器、高压油发生器、油缸和力传导装置；压力检测装置包括压力传感器、传感器变送器和压力数据显示仪表；位移测量装置包括激光位移传感器和位移数据显示仪表。通过合理设计各部件结构，模拟特定环境下对带涂层的硅钢叠片的微变形量进行自动、精确的测量；温度和压力能够根据需要而自由设定；采用激光位移传感器实现高精度微变形量测量；操作人员只需输入预设值和简易的开启停止操作即可，操作简单方便。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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