一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910932189.0
IPC分类号：G01N19/08;G01N5/00
申请日期：
2019-09-29
申请人：
安徽万磁电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法
申请号	CN201910932189.0	申请日期	2019-09-29
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-11-29	公开/公告号	CN110514587A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N19/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N19/00 用机械方法测试材料（G01N 3/00至G01N 17/00优先） G01N19/08 检测裂缝或不匀度的存在	IPC分类号	G;0;1;N;1;9;/;0;8;;;G;0;1;N;5;/;0;0查看分类表>
申请人	安徽万磁电子有限公司	申请人地址	安徽省合肥市庐江县石头镇工业园区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安徽万磁电子有限公司	当前权利人	安徽万磁电子有限公司
发明人	唐睿;何进;陈益民
代理机构	合肥市泽信专利代理事务所（普通合伙）	代理人	方荣肖

摘要

本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件，传输装置一包括电磁铁一、伸缩件一以及传输组件一，凸面检测装置包括检测座一、若干个触压开关一以及若干个探针一。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二，凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二，定位装置包括测距传感器二和测距传感器三。本发明实现了对磁瓦的凹凸面的缺陷检查，提高缺陷的检查效果，可以降低劳动强度，保护工人的眼睛，而且提高缺陷检查的效率和误检率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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