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一种磁控溅射装置及磁控溅射系统

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201621197024.1
  • IPC分类号:C23C14/35;C23C14/54
  • 申请日期:
    2016-11-04
  • 申请人:
    广汉川冶新材料有限责任公司
著录项信息
专利名称一种磁控溅射装置及磁控溅射系统
申请号CN201621197024.1申请日期2016-11-04
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;5;4查看分类表>
申请人广汉川冶新材料有限责任公司申请人地址
四川省德阳市广汉市新丰镇古城村九社 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广汉川冶新材料有限责任公司当前权利人广汉川冶新材料有限责任公司
发明人徐兴;李泽宇;周媛;魏志英
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人李佳
摘要
本实用新型提供了一种磁控溅射装置及磁控溅射系统,属于半导体制备领域。该磁控溅射装置包括壳体,壳体内设置有磁靶、靶材组件、用于安装基材的炉盘和用于调整靶材组件与基材之间的磁场强度的缓冲组件。磁靶固定于壳体的内壁并用于提供磁场,炉盘设置于壳体的内壁并用于安装基材,靶材组件设置于磁靶并与炉盘相对设置。缓冲组件设置于靶材组件和磁靶之间,缓冲组件包括驱动装置和至少两个依次叠放的调整板,每个调整板通过驱动装置移入或移出工作区域。这种磁控溅射装置和磁控溅射系统,能够通过缓冲组件有效的解决了现有的通过手动方式调节磁场强度的精度不高的问题,提高生产效率及半导体薄膜的质量。

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