非接触超声热激励红外热成像无损检测方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200910244001.X
IPC分类号：G01N25/72;G01N29/34
申请日期：
2009-12-24
申请人：
首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司

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著录项信息

专利名称	非接触超声热激励红外热成像无损检测方法和系统
申请号	CN200910244001.X	申请日期	2009-12-24
法律状态	暂无	申报国家	暂无
公开/公告日	2010-05-26	公开/公告号	CN101713756A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/72 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/72 测试缺陷的存在	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;7;2;;;G;0;1;N;2;9;/;3;4查看分类表>
申请人	首都师范大学;北京维泰凯信新技术有限公司	申请人地址	浙江省杭州市经济技术开发区白杨街道6号大街260号4幢一层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州派肯科技有限公司	当前权利人	杭州派肯科技有限公司
发明人	陶宁;王迅;曾智;冯立春;张存林;陈大鹏
代理机构	北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司	代理人	孙皓晨;贺华廉

摘要

一种非接触超声热激励红外热成像无损检测系统，用于检测试件，包括超声发射装置，该试件置于该超声发射装置的下方或侧下方；红外热像仪，放置于该试件的周围；计算机，与该红外热像仪相连；超声控制器，连接该超声发射装置和该计算机。一种非接触超声热激励红外热成像无损检测方法，包括如下步骤(1)将被检测试件放置在超声发射装置的超声枪头的下方或侧下方，超声控制器设定所需参数；(2)超声发射装置接收到超声控制器的控制信号后，向试件发射声能；(3)当足够的超声声能耦合进试件，通过红外热像仪连续观测和记录试件表面的温场变化；(4)利用计算机采集红外热像仪得到的数据，进行数据处理和分析，对试件内部缺陷的定量诊断。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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