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具有磁阻元件的方位计

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN02103394.3
  • IPC分类号:G01C17/28
  • 申请日期:
    2002-02-04
  • 申请人:
    日立金属株式会社
著录项信息
专利名称具有磁阻元件的方位计
申请号CN02103394.3申请日期2002-02-04
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2002-09-18公开/公告号CN1369689
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C17/28IPC分类号G;0;1;C;1;7;/;2;8查看分类表>
申请人日立金属株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日立金属株式会社当前权利人日立金属株式会社
发明人阿部泰典;下江治;诸野胁幸昌;板桥弘光;美马宏行;原田仁
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人杜日新
摘要
所公开的方位计具有用于施加偏置磁场的薄膜平面线圈以及与此线圈的相对导体边交叉设置的至少一对磁阻元件对(设为第一与第二磁阻薄板)。此平面线圈具有至少一对相对导体边(设为第一与第二边)。此第一磁阻薄板与此第一边交叉成大于30°而小于90°的角。此第二磁阻薄板与此第二边交叉成大于30°而小于90°的角。在对磁阻薄板分别施加正反方向的偏置磁场的同时,测定磁阻元件对的中间电位,根据此两中间电位的差而检测出方位。

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