包含高灵敏度测量模式的色谱测距传感器

发明专利有效专利

申请号：
CN201610298366.0
IPC分类号：G01B11/02
申请日期：
2016-03-04
申请人：
株式会社三丰

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著录项信息

专利名称	包含高灵敏度测量模式的色谱测距传感器
申请号	CN201610298366.0	申请日期	2016-03-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-09-14	公开/公告号	CN105937877A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 11/08优先）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	株式会社三丰	申请人地址	日本神奈川县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社三丰	当前权利人	株式会社三丰
发明人	A·M·帕茨沃尔德
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	曲莹

摘要

本发明公开了一种包含高灵敏度测量模式的色谱测距传感器。操作色谱测距传感器(CRS)系统的方法可包括色点传感器(CPS)系统，该色点传感器系统包括光学笔，以测量低反射率表面。CRS系统可包含高灵敏度测量模式，在该模式中使用非常规的低采样率或“长”自饱和曝光时间，以测量低反射率表面。“长”自饱和曝光时间可引起一个或多个探测器像素自饱和达到至少饱和阈值水平，其防止它们指示有效波长峰值。这样的像素可限定出标定总测量范围的无效峰值部分。当表面位于CRS系统确定的标定总测量范围的有效子集中，这样排除了无效峰值部分时，CRS仍可检测有效波长峰值或进行高度测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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