搭接电阻的测量

发明专利有效专利

申请号：
CN201510011252.9
IPC分类号：G01R27/08
申请日期：
2015-01-09
申请人：
法国大陆汽车公司;大陆汽车有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	搭接电阻的测量
申请号	CN201510011252.9	申请日期	2015-01-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-07-15	公开/公告号	CN104777365A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R27/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R27/00 测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置 G01R27/02 电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量（仅仅通过测量相位角的入G01R 25/00） G01R27/08 通过测量电流和电压来测量电阻	IPC分类号	G;0;1;R;2;7;/;0;8查看分类表>
申请人	法国大陆汽车公司;大陆汽车有限公司	申请人地址	法国图卢兹变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	法国大陆汽车公司,大陆汽车有限公司	当前权利人	法国大陆汽车公司,大陆汽车有限公司
发明人	A.帕斯夸莱托;J-M.坎坦
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	张凌苗;胡莉莉

摘要

本发明涉及搭接电阻的测量。一种用于确定包括四个晶体管（HS1、HS2、LS1、LS2）的H桥（2）的接触电阻（Rab、Rcd、Ref、Rgh）的方法，每个晶体管具有到两个邻近晶体管的连接的点（4、B、D、F、H），在每种情况中在位于两个晶体管之间的连接点与访问端子（8、A、C、E、G）之间产生搭接（6），其特征在于其包括以下步骤：作用于桥的晶体管的打开/闭合状态，使得在对应于访问端子的连接点的任一侧的晶体管打开，向访问端子施加所确定的电压，确定流过对应于所述访问端子的搭接的电流，如果与所述访问端子邻近的访问端子尚未被连接至地，则将此访问端子接地，以及测量另一邻近访问端子处的电压。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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