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少自由度空间并联机构拓扑性能指标分析方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710571554.0
  • IPC分类号:G05B19/05
  • 申请日期:
    2017-07-13
  • 申请人:
    北华航天工业学院
著录项信息
专利名称少自由度空间并联机构拓扑性能指标分析方法及装置
申请号CN201710571554.0申请日期2017-07-13
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-09-22公开/公告号CN107193256A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05B19/05IPC分类号G;0;5;B;1;9;/;0;5查看分类表>
申请人北华航天工业学院申请人地址
河北省廊坊市爱民东道133号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北华航天工业学院当前权利人北华航天工业学院
发明人田东兴
代理机构北京慧智兴达知识产权代理有限公司代理人韩龙;郭群
摘要
本发明实施例公开了一种含有闭环的少自由度空间并联机构拓扑性能指标分析方法及装置,该方法包括构建含有闭环的少自由度空间并联机构的拓扑结构,优化拓扑结构和进行性能分析。本发明实施例通过设计和分析少自由度并联机构的拓扑结构,建立系统的基于拓扑结构的空间机构评价和优选方法,从而能够衡量出各种因素可能带来的影响,进而使开发出更加适合装配和工业应用的空间并联结构成为可能。

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