一种MCU的校准方法和系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201410818617.4
IPC分类号：G05B23/02
申请日期：
2014-12-24
申请人：
北京兆易创新科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种MCU的校准方法和系统
申请号	CN201410818617.4	申请日期	2014-12-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-07-20	公开/公告号	CN105785967A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G05B23/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G05 控制；调节 G05B 一般的控制或调节系统；这种系统的功能单元；用于这种系统或单元的监视或测试装置（应用流体作用的一般流体压力执行器或系统入F15B；阀门本身入F16K；仅按机械特征区分的入G05G；传感元件见相应小类，例如G12B，G01、H01的小类；校正单元见相应的小类，例如H02K） G05B23/00 控制系统或其部件的检验或监视（程序控制系统的监视入G05B 19/048，G05B 19/406） G05B23/02 电检验式监视	IPC分类号	G;0;5;B;2;3;/;0;2查看分类表>
申请人	北京兆易创新科技股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区学院路30号科大天工大厦A座12层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京兆易创新科技股份有限公司	当前权利人	北京兆易创新科技股份有限公司
发明人	王南飞;李宝魁
代理机构	北京润泽恒知识产权代理有限公司	代理人	赵娟

摘要

本发明公开了一种MCU的校准方法和系统，以解决在MCU中集成OTP使MCU增加较大的面积、制造工艺复杂、以及产生错误概率增加的问题。其中，方法包括：在MCU的出厂前测试时，MCU运行过程中，接收测试校准信息，将测试校准信息写入校准控制单元；利用测试校准信息对待校准模块进行测试校准操作；判断在测试校准操作后，待校准模块是否满足预设的测试条件；若满足预设的测试条件，则将测试校准信息写入非易失性存储器。本发明不需要增加额外的特殊工艺，芯片制造工艺简单，产生错误的概率降低，并且降低了校准时间，从而降低芯片成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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